Sub-Nanometer Length Measurement System Using a fs-comb

  • KAJIMA Mariko
    AIST, NMIJ, Tsukuba Central3, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8563
  • MINOSHIMA Kaoru
    AIST, NMIJ, Tsukuba Central3, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8563

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Other Title
  • 光コムを利用したサブナノメートル測長技術の開発
  • ヒカリ コム オ リヨウ シタ サブナノメートルソクチョウ ギジュツ ノ カイハツ

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Abstract

A length measurement system with sub-nanometer accuracy was developed. The system used the optical

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