放射線による半導体デバイスへの影響 Response of semiconductor devices to radiation

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著者

    • 大島 武 OHSHIMA Takeshi
    • (独)日本原子力研究開発機構 量子ビーム応用研究部門 Japan Atomic Energy Agency, Quantum Beam Science Directorate

収録刊行物

  • 應用物理

    應用物理 81(3), 216-219, 2012-03-10

    応用物理学会

参考文献:  16件中 1-16件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10030158643
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00026679
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03698009
  • NDL 記事登録ID
    023566313
  • NDL 請求記号
    Z15-243
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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