A0モードラム波を用いた動的せん断歪み解析に基づく欠損部の近接場の撮像 Near-field Imaging of Defects Based on the Dynamic Shear Strain Analysis over the A0-mode Lamb Wave Field

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • 計測自動制御学会論文集 = Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers

    計測自動制御学会論文集 = Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers 47(10), 422-429, 2011-10-31

    計測自動制御学会

参考文献:  21件中 1-21件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10030165279
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00072392
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    04534654
  • NDL 記事登録ID
    023334973
  • NDL 請求記号
    Z14-482
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
ページトップへ