ローレンツ顕微鏡法と電子エネルギー損失分光法による強相関電子系材料の微細構造の観察 Characterization of Microstructures in Strongly Correlated Electron Materials Using Lorentz Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy in Transmission Electron Microscopy

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著者

    • 木本 浩司 KIMOTO K.
    • 物質・材料研究機構 先端的共通技術部門 表界面構造・物性ユニット 電子顕微鏡グループ Electron Microscopy Group, Advanced Key Technologies Division, National Institute for Materials Science
    • 長井 拓郎 NAGAI T.
    • 物質・材料研究機構 先端的共通技術部門 表界面構造・物性ユニット 電子顕微鏡グループ Electron Microscopy Group, Advanced Key Technologies Division, National Institute for Materials Science

収録刊行物

  • まぐね = Magnetics Japan

    まぐね = Magnetics Japan 6(6), 329-332, 2011-12-01

    日本応用磁気学会

参考文献:  15件中 1-15件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10030284268
  • NII書誌ID(NCID)
    AA1211610X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    18807208
  • NDL 記事登録ID
    023444822
  • NDL 請求記号
    Z74-E810
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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