赤外線2次元ロックインアンプを用いた回路近傍電磁界強度分布測定法の提案

• 千代 憲隆

  東京都市大学

• 小峯 祐司

  東京都市大学

• 田中 康寛

  東京都市大学

• 西方 敦博

  東京工業大学

• 平野 拓一

  東京工業大学

• 前野 恭

  東京都市大学 独立行政法人情報通信研究機構電磁波計測研究所

書誌事項

タイトル別名

• Proposal of Measurement Method of Electromagnetic Field Intensity Distribution near Circuit Using Infrared 2-D Lock-in Amplifier
• セキガイセン 2ジゲン ロックインアンプ オ モチイタ カイロ キンボウ デンジカイ キョウド ブンプ ソクテイホウ ノ テイアン

抄録

電磁波を吸収・発熱する電磁波吸収幕を用いた電磁界強度分布測定装置を開発した。電磁界の強度に応じて生じる幕の温度上昇を赤外線カメラで測定することで，2次元電磁界強度分布を，測定対象電磁界を乱すことは少なく測定できる。そこで，本論文では，開発した装置により回路近傍の電磁界を測定した。AC–DC変換器近傍の3次元電磁界強度パターン，および，高周波回路に生じる定在波により形成される電磁界や，実装したフィルタ素子の周辺の電磁界分布を観測した。このような情報は回路の設計・評価に有用であり，開発した装置は回路の電磁環境調査に有効であることを示す結果が得られた。

収録刊行物

• エレクトロニクス実装学会誌

  エレクトロニクス実装学会誌 15 (4), 263-270, 2012

  一般社団法人エレクトロニクス実装学会

キーワード

• Measurement of Electromagnetic Field Distribution
• Near Field of Circuit Board
• 2-D Lock-in Amplifier
• Infrared Camera
• Visualization

詳細情報

• CRID: 1390282679537793920
• NII論文ID: 10030506662
• NII書誌ID: AA11231565
• DOI: 10.5104/jiep.15.263
• ISSN: 1884121X
• ISSN: 13439677
• NDL書誌ID: 023880562
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023880562
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/jiep/15/4/15_263/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可