表面電子分光法および深さ方向分析の標準化

• 鈴木 峰晴

• 永富 隆清

• 高橋 和裕

書誌事項

タイトル別名

• ヒョウメン デンシ ブンコウホウ オヨビ フカサ ホウコウ ブンセキ ノ ヒョウジュンカ
• Standardization of Electron Spectroscopies for Surface Analysis and Depth Profiling

収録刊行物

• ぶんせき / 日本分析化学会 編

  ぶんせき / 日本分析化学会 編 2012 (7), 371-377, 2012-07

  東京 : 日本分析化学会

詳細情報

• CRID: 1520290883500675200
• NII論文ID: 10030826220
• NII書誌ID: AN00222622
• ISSN: 03862178
• NDL書誌ID: 023898002
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/023898002
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023898002
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN