Performance of Gate-All-Around Tunneling Field-Effect Transistors Based on Si_<1-x>Ge_x Layer

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著者

    • LEE Jae Sung
    • School of Electrical Engineering and Computer Science, Kyungpook National University
    • KANG In Man
    • School of Electronics Engineering, Kyungpook National University

収録刊行物

  • IEICE transactions on electronics

    IEICE transactions on electronics 95(5), 814-819, 2012-05-01

参考文献:  23件中 1-23件 を表示

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10030941272
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10826283
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09168524
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
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