X線CTによる電子部品の故障解析

• 井原 惇行

Bibliographic Information

Other Title

• Xセン CT ニ ヨル デンシ ブヒン ノ コショウ カイセキ
• Failure analysis of electronic components using X-ray CT scanner
• 特集 新しい電磁波を使った評価法
• トクシュウ アタラシイ デンジハ オ ツカッタ ヒョウカホウ

Journal

• Abrasive technology : 砥粒加工学会誌 : journal of the Japan Society for Abrasive Technology

  Abrasive technology : 砥粒加工学会誌 : journal of the Japan Society for Abrasive Technology 56 (8), 527-530, 2012-08

  東京 : 砥粒加工学会

Keywords

• X-ray CT scanner
• gailure analysis
• electronic component
• reliability
• solder joint

Details

• CRID: 1520853833402488960
• NII Article ID: 10030943477
• NII Article ID: 40019399627
• NII Book ID: AN10192823
• ISSN: 09142703
• NDL BIB ID: 023914788
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023914788
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN11(科学技術--機械工学・工業)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles