SiN_x 絶縁ゲート GaAs エッチングナノワイヤFETにおける低周波雑音特性の評価

• 村松徹

Journal

• 信学技報

  信学技報 111 (167), 31-34, 2011

Details

• CRID: 1574231875902294784
• NII Article ID: 10031112858
• Data Source:
  • CiNii Articles