EELSを用いたLi元素マッピング

• 吉川 純

• 秋田 知樹

• 田渕 光春

書誌事項

タイトル別名

• EELS オ モチイタ Li ゲンソ マッピング
• Li Mapping Using EELS
• 特集 TEMをもちいた電池のイメージング
• トクシュウ TEM オ モチイタ デンチ ノ イメージング

収録刊行物

• 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編

  顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 47 (3), 131-134, 2012

  東京 : 日本顕微鏡学会

キーワード

• リチウムイオン二次電池
• 電子エネルギー損失分光法
• Liマッピング

詳細情報

• CRID: 1520853833193159552
• NII論文ID: 10031121395
• NII書誌ID: AA11917781
• ISSN: 13490958
• NDL書誌ID: 024037914
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024037914
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles