2枚のスペックルパターンのみを用いたフーリエ変換技術による電子スペックル干渉法

• 新井 泰彦

• 横関 俊介

書誌事項

タイトル別名

• 2マイ ノ スペックルパターン ノミ オ モチイタ フーリエ ヘンカン ギジュツ ニ ヨル デンシ スペックル カンショウホウ
• Electronic Speckle-Pattern Interferometry Using Only Two Speckle Patterns Based on Fourier Transform

収録刊行物

• 光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan

  光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan 42 (5), 256-265, 2013-05

  東京 : 日本光学会

キーワード

• electronic speckle pattern interferometry (ESPI)
• convex or concave out-of-plane deformation measurement
• high resolution power measurement
• unresolved speckle

詳細情報

• CRID: 1520290882342948096
• NII論文ID: 10031166451
• NII書誌ID: AN00080324
• ISSN: 03896625
• NDL書誌ID: 024668531
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024668531
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles