1. エリプソメトリーによるタングステンの複素屈折率測定((1)光源・回路・放電現象(I)(電球・蛍光ランプ関係))

• 佐藤 歩

  新潟大学工学部

• 柏木 孝仁

  新潟大学大学院自然科学研究科

• 関根 征士

  新潟大学工学部

• 大河 正志

  新潟大学工学部

書誌事項

タイトル別名

• Measurement of Complex Index of Refraction of Tungsten by Ellipsometry

収録刊行物

• 照明学会全国大会講演論文集

  照明学会全国大会講演論文集 33 39-40, 2000-08-24

  一般社団法人照明学会

詳細情報

• CRID: 1570854176841716224
• NII論文ID: 110001143495
• NII書誌ID: AN10170820
• ISSN: 09191895
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles