22pT-13 Si2p角度分解光電子分光によるSiO2/Si(100)界面構造に関する研究

• 呉 鎮浩

  東大工

• Yeom H. W.

  東大工

• 萩本 賢哉

  東大工

• 小野 寛太

  東大工

• 柿崎 明人

  KEK-PF

• 尾嶋 正浩

  東大工

書誌事項

タイトル別名

• The structure of the ultra-thin SiO_2/Si (100) interface studied by Si 2p core-level shift angle-resolved photoemissi

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 55.1.4 (0), 754-, 2000

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282681012680192
• NII論文ID: 110001916416
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.55.1.4.0_754_3
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: en
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles