非接触モード原子間力顕微鏡による半導体表面の真の原子分解能観察

• 菅原 康弘

  阪大工

• 森田 清三

  阪大工

書誌事項

タイトル別名

• True Atomic Resolution Imaging of Semiconductor Surfaces Using Nocontact AFM

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集. 秋の分科会

  日本物理学会講演概要集. 秋の分科会 1996.2 (0), 561-, 1996

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282681143385216
• NII論文ID: 110001985789
• DOI: 10.11316/jpsgaiyoj.1996.2.0_561
• ISSN: 24331171
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles