5p-B-5 高温エチレン分子ビームによるSi(001)表面での炭化膜形成過程のRHEED観察

DOI

書誌事項

タイトル別名
  • 5p-B-5 RHEED Observation of carbide film growth on Si(001)produced by hot ethylene molecular beam

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001206021721088
  • NII論文ID
    110002061054
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.52.2.2.0_337_3
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ