21pXA-7 シリコン中の点欠陥と不純物の拡散メカニズム : タイトバインディング分子動力学シミュレーション

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タイトル別名
  • Diffusion Mechanisms of Impurities and Point Defects in Silicon : Tight-Binding Molecular Dynamics Simulation

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001205993947264
  • NII論文ID
    110002064604
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyo.58.2.4.0_856_3
  • ISSN
    21890803
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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