28a-J-9 超高真空原子間力顕微鏡によるII-VI族化合物半導体劈開面の格子像観察

• 菅原 康弘

  広大理

• 大田 昌弘

  広大理

• 森田 清三

  広大理

• 鈴木 峰晴

  NTT境界研

• 三島 周三

  オリンパス光学

書誌事項

タイトル別名

• Atomic Resolution Imaging of II-VI Compound Semiconductor Surface with UHV-AFM

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集. 年会

  日本物理学会講演概要集. 年会 50.2 (0), 493-, 1995

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282681169025408
• NII論文ID: 110002138136
• DOI: 10.11316/jpsgaiyog.50.2.0_493_2
• ISSN: 24331112
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles