31p-YK-12 C_<60>/Si(111)-7x7ヘテロエピタキシャル膜表面拡張欠陥のSTM観察

• 武内 修

  東大工

• 候 建国

  中国科技研

• 前田 康二

  東大工

• 河津 璋

  東大工

書誌事項

タイトル別名

• STM Observations of Extended Defects in Hetero-epitaxial Film Surfaces of C_<60>/Si(111)-7x7

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 53.1.2 (0), 107-, 1998

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001206023946624
• NII論文ID: 110002174761
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.53.1.2.0_107_1
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles