30a-YF-4 GaAs(110)劈開表面の点欠陥の静電気力顕微鏡による観察

• 菅原 康弘

  阪大工

• 内橋 貴之

  阪大工

• 阿部 真之

  阪大工

• 塚本 貴広

  阪大工

• 森田 清三

  阪大工

• 鈴木 峰晴

  NTTアドバンステクノロジー

• 柳瀬 好夫

  住友シチックス

• 重松 達彦

  住友シチックス

書誌事項

タイトル別名

• Obsrvation of atomic-scale point defects on GaAs(110) Sunface with Electrostatic Foroe Microscope

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 53.1.2 (0), 297-, 1998

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001206025180928
• NII論文ID: 110002178989
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.53.1.2.0_297_4
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles