28pWP-7 極低温原子間力顕微鏡法によるSi(001)表面の観察(表面界面構造(半導体))(領域9)

• 内藤 賀公

  阪大院工

• 尾崎 直幸

  阪大院工

• 菅原 康弘

  阪大院工

書誌事項

タイトル別名

• 28pWP-7 AFM observation of Si(001) surface at low temperature

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 59.1.4 (0), 914-, 2004

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001205996536704
• NII論文ID: 110002200109
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.59.1.4.0_914_1
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles