31p-M-4 a-Si : Hの電子と正孔の分散型電気伝導とバンド端のゆらぎ

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タイトル別名
  • 31p-M-4 Band Edge Fluctuation in a-Si:H Estimated from Electron and Hole Dispersive Transport

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1390001206190150784
  • NII論文ID
    110002214151
  • DOI
    10.11316/jpsgaiyog.48.2.0_160_1
  • ISSN
    24331112
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • JaLC
    • CiNii Articles

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