28p-XJ-10 EELSを用いた金属多層膜の局所電子構造解析

• 末永 和知

  科学技術振興事業団:Paris-Sud大

• Colliex C.

  Paris-Sud大

書誌事項

タイトル別名

• 28p-XJ-10 Mapping of electronic states across multilayers by means of EELS

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 54.1.2 (0), 349-, 1999

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390001206031152512
• NII論文ID: 110002220850
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.54.1.2.0_349_3
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: en
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles