28pYG-5 微小角入射表面反射トポグラフィによる GaAs 基板上の ZnSe 薄膜の観察
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- 水野 薫
- 島根大・理工
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- 藤木 史顕
- 島根大・理工
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- 岡本 博之
- 金沢大・医
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- Prete Paola
- CNR-IME
書誌事項
- タイトル別名
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- Observation of ZnSe epilayer on GaAs by means of X-ray topography with grazing incidence
収録刊行物
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- 日本物理学会講演概要集
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日本物理学会講演概要集 58.1.4 (0), 899-, 2003
一般社団法人 日本物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390001205993777920
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- NII論文ID
- 110002224157
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- ISSN
- 21890803
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- CiNii Articles