セラミックスの残留応力のＸ線的解析

• 鈴木 賢治

  新潟大学教育人間科学部生活環境講座

• 田中 啓介

  名古屋大学工学部機械工学教室

書誌事項

タイトル別名

• X-Ray Analysis of Residual Stresses in Ceramics.
• セラミックス ノ ザンリュウ オウリョク ノ Xセンテキ カイセキ

収録刊行物

• 材料

  材料 48 (10), 1147-1154, 1999

  公益社団法人 日本材料学会

キーワード

• X-ray stress measurement
• Ceramics
• Thin film
• Composite material
• Advanced materials
• Residual stress

詳細情報

• CRID: 1390001205392054272
• NII論文ID: 110002293639
• NII書誌ID: AN00096175
• DOI: 10.2472/jsms.48.1147
• ISSN: 18807488
• ISSN: 05145163
• NDL書誌ID: 4881740
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4881740
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles