206 多端子型直流電位差法による半楕円表面き裂の非破壊評価

• 岡田 眞禎

  岡山大

• 多田 直哉

  岡山大

書誌事項

タイトル別名

• Non-Destructive Evaluation of a Semi-Elliptical Surface Crack by DC-EPM with Multiple-Type Probe

収録刊行物

• 中国四国支部総会・講演会　講演論文集

  中国四国支部総会・講演会　講演論文集 2002.40 (0), 49-50, 2002

  一般社団法人 日本機械学会

キーワード

• Semi-Elliptical Surface Crack
• Direct Current Electrical Potential Method
• Non-Destructive Evaluation

詳細情報

• CRID: 1390282680836390144
• NII論文ID: 110002534516
• DOI: 10.1299/jsmecs.2002.40.49
• ISSN: 24242764
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/jsmecs/2002.40/0/2002.40_49/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles