単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について  [in Japanese] Test Generation for Double Stuck-at Faults with Single Redundant Fault  [in Japanese]

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Abstract

単一冗長故障のみが存在する回路は, テストにおいて正常と判断されるが, そのような回路に別の縮退故障が後から生じた場合, たとえ完全な単一縮退故障に対するテストパターンを用いても, その回路を故障回路と判定できない場合がある.そこで本研究では, このような問題を解決するために, 単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成法を提案する.提案法では, 検出不可能な2重縮退故障の判定と, 単一縮退故障用テスト生成器を用いたテスト生成を行う.また提案法の有効性を確認するために, ISCAS'85ベンチマーク回路に対する実験結果を示す.

A circuit with single redundant fault is always identified as a fault-free circuit. If another stuck-at fault occurs later in such a circuit, and even if the circuit is tested by a complete test set generated for single stuck-at faults, the circuit may not be identified as a faulty circuit. In order to solve this problem, we present a test generation method for double stuck-at faults with single redundant fault. The proposed method consists of identification of undetectable double stuck-at faults and test generation by a test generator for single stuck-at faults. Finally we give experimental results for ISCAS'85 benchmark circuits.

Journal

  • 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]

    情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 95, 31-37, 2000-02-09

    Information Processing Society of Japan (IPSJ)

References:  5

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110002675854
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AA11451459
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    09196072
  • NDL Article ID
    5340099
  • NDL Call No.
    Z14-1121
  • Data Source
    CJP  NDL  NII-ELS 
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