Self-Timed Cut-Off 法の待ち時間動的最適化によるリーク電流削減手法  [in Japanese] A Leakage Current Reduction Technique by Optimizing Waiting Time Dynamically in Self-Timed Cut-Off Scheme  [in Japanese]

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Abstract

動作時においてリーク電流を減らすために,予め決められた待ち時間だけ動いていないブロックの電源を切るSelf-Timed Cut-Off法が有効である.このとき最適な待ち時間を設定することが重要となる.単一用途の回路ブロックでは使用状況を予測できるが,汎用プロセッサの演算器においてはアプリケーション毎に使用状況が変化する.本稿では待ち時間を動的に最適化することを提案し,使用状況が刻々と変化する場合においてもリーク電流を削減可能であることを示す.

Self-Timed Cut-Off scheme reduces leakage current effectively even if a chip is in an active mode. The circuit block is cut off if it is not used for the predetermined waiting time. It is important to determine the most appropriate waiting cycle in this scheme. The enable statistics of ASIC are expectable, but that of the computing unit in general-purpose processors varies by the executed applications. This paper proposes a dynamic optimization scheme of the waiting time in Self-Timed Cut-Off scheme. The proposed scheme reduce leakage current even if the enable statistics varies in certain intervals.

Journal

  • 情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術]

    情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 117, 267-272, 2004-12-02

    Information Processing Society of Japan (IPSJ)

References:  8

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110002695814
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AA11451459
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    09196072
  • NDL Article ID
    7216425
  • NDL Source Classification
    ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
  • NDL Call No.
    Z14-1121
  • Data Source
    CJP  NDL  NII-ELS 
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