全反射ラマン分光法による薄膜の分子構造, 分子配向及び屈折率の異方性の評価(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学)

DOI NDLデジタルコレクション Web Site Web Site 被引用文献4件

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タイトル別名
  • Molecular structure, molecular orientation and refractive indices of thin films by attenuated total-reflection Raman spectroscopy.
  • 全反射ラマン分光法による薄膜の分子構造，分子配向及び屈折率の異方性の評価
  • ゼン ハンシャ ラマン ブンコウホウ ニ ヨル ハクマク ノ ブンシ コウゾウ

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抄録

We have designed a new attenuated total-reflection (ATR) Raman scattering apparatus with an optical fiber and hemispherical prism. This apparatus is characterized by easy control and high resolution of the incident angle as well as the rotation of a sample mounted on a prism. We have applied this apparatus to the characterization of the depth profile of the molecular structure, molecular orientation and anisotropic refractive indices for a diamond-like amorphous carbon film prepared on a polyethylene terephthalate film, an iodide-doped polyvinyl alcohol film and an organic nonlinear optical crystal thin film.

収録刊行物

  • 分析化学

    分析化学 40 (11), T203-T208, 1991

    公益社団法人 日本分析化学会

被引用文献 (4)*注記

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