ケルビンプローブ法を用いた高分子/金属ナノ界面電子状態の評価

• 堀 圭児

• 本川 善幸

• 多田 和也

書誌事項

タイトル別名

• ケルビンプローブホウ オ モチイタ コウブンシ キンゾク ナノ カイメン デンシ ジョウタイ ノ ヒョウカ
• 有機分子エレクトロニクスの現状と将来展望論文小特集
• ユウキ ブンシ エレクトロニクス ノ ゲンジョウ ト ショウライ テンボウ ロンブン ショウトクシュウ

収録刊行物

• 電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The IEICE transactions on electronics. C / 電子情報通信学会 編

  電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス = The IEICE transactions on electronics. C / 電子情報通信学会 編 85 (12), 1064-1069, 2002-12

  東京 : 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ

キーワード

• 導電性高分子
• 接触電位差

詳細情報

• CRID: 1520572359355691776
• NII論文ID: 110003172014
• NII書誌ID: AA11412446
• ISSN: 13452827
• NDL書誌ID: 6373111
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6373111
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles