ポリSi TFTの過渡特性における自己発熱及びキンク効果の影響の分離評価

• 多田, 憲史

• 廣瀬, 哲也

• 松岡, 俊匡

• 谷口, 研二

• 前田, 和宏

• 酒井, 保

• 久保田, 靖

• 今井, 繁規

書誌事項

タイトル別名

• Separation of Self-Heating and Kink Effects on Transient Characteristics of Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors
• ポリ　Si TFT　ノ　カト　トクセイ　二　オケル　ジコ　ハツネツ　オヨビ　キンク　コウカ　ノ　エイキョウ　ノ　ブンリ　ヒョウカ

抄録

ポリSi TFTのドレーンパルスに対する過渡応答の実測評価より，自己発熱効果による温度上昇と，インパクトイオン化現象による正孔の発生に伴うキンク効果がそれぞれ過渡特性を説明する主要なメカニズムであることを確認した．

収録刊行物

• 電子情報通信学会論文誌C

  電子情報通信学会論文誌C J87-C (1), 186-187, 2004-01

  電子情報通信学会

キーワード

• TFT
• 過渡応答
• 自己発熱効果
• インパクトイオン化現象
• キンク効果

詳細情報

• CRID: 1050299693926735488
• NII論文ID: 110003172207
• NII書誌ID: AA11412446
• HANDLE: 11094/51677
• ISSN: 13452827
• 本文言語コード: ja
• 資料種別: journal article
• データソース種別:
  • IRDB
  • CiNii Articles