Local characterization of electronic transport in microcrystalline germanium thin films by atomic force microscopy using a conducting probe

• 牧原 克典

• 岡本 祥裕

• 中川 博

書誌事項

タイトル別名

• 導電性AFM探針による微結晶ゲルマニウム薄膜の局所電気伝導評価

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 103 (159), 37-40, 2003-06-30

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• Ge薄膜
• Ge film

詳細情報

• CRID: 1520290882096598144
• NII論文ID: 110003175342
• NII論文ID: 110003308430
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 6646307
• NDL書誌ID: 6646778
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6646307
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6646778
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles