バースト誤り通信路に適した低密度パリティ検査符号の構成法  [in Japanese] Construction Methods of Low-Density Parity-Check Codes for Burst Error Channels  [in Japanese]

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Author(s)

    • 細谷 剛 HOSOYA Gou
    • 早稲田大学理工学部経営システム工学科 Department of Industrial and Management Systems Engineering, School of Science and Engineering, Waseda University
    • 八木 秀樹 YAGI Hideki
    • 早稲田大学理工学部経営システム工学科 Department of Industrial and Management Systems Engineering, School of Science and Engineering, Waseda University
    • 平澤 茂一 HIRASAWA Shigeichi
    • 早稲田大学理工学部経営システム工学科 Department of Industrial and Management Systems Engineering, School of Science and Engineering, Waseda University

Abstract

低密度パリティ検査(LDPC)符号の代表的な復号法であるsum-product復号法は,ランダム誤りに対するビット単位の事後確率(APP)復号法であるため,バースト誤り通信路など記憶のある通信路に対するLDPC符号の復号法に関する研究が,近年盛んに行われている.本研究ではバースト誤りに適したLDPC符号の構成法について検討を行う.まず,従来から用いられている構成法ではバースト誤りに対する復号性能が悪化する点を指摘する.さらにバースト誤りに適した構成法を提案する.その結果,ランダム誤りに対する復号性能を劣化させることなく,バースト誤りに対する復号性能が向上することをシミュレーションにより示す.

The sum-product algorithm, a well-known decoding algorithm of Low-Density Parity-Check (LDPC) codes, is a bit-by-bit a posteriori probability decoding and assumes channels as memoryless. Iterative decoding algorithms of LDPC codes for channels with memory such as burst error channels have been widely studied in recent years. In this paper, we study construction methods of LDPC codes for burst error channels. We first point out that some conventional construction methods have weakness in error performance for burst error channels. Assuming the sum-prduct algorithm, we propose new construction methods of LDPC codes for burst error channels. We show by simulation results that codes constructed by proposed methods have robustness in error performance for burst error channels, compared to codes constructed by conventional methods. We show the proposed methods do not cause any degradation in error performance for memoryless channels.

Journal

  • IEICE technical report. Information theory

    IEICE technical report. Information theory 103(214), 61-66, 2003-07-15

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  12

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003177793
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10013083
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    09135685
  • NDL Article ID
    6677082
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    CJP  NDL  NII-ELS 
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