パラレルGLFSRを用いた自己組み込みテストにおける故障検出率の向上に関する研究

• 東 裕貴

• 範 公可

書誌事項

タイトル別名

• パラレル GLFSR オ モチイタ ジコ クミコミ テスト ニ オケル コショウ ケンシュツリツ ノ コウジョウ ニ カンスル ケンキュウ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 103 (406), 9-12, 2003-11-07

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• テスト発生回路
• LFSR
• Built-in Self-test
• Test pattern generator

詳細情報

• CRID: 1520009408883430528
• NII論文ID: 10011867215
• NII論文ID: 110003299912
• NII論文ID: 110003178151
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 6797212
• NDL書誌ID: 6796277
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6797212
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6796277
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles