誘電体共振器法による超伝導体表面抵抗の測定精度に関する検討  [in Japanese] Discussion for measurement precisions of surface resistance of superconductor plates and films by dielectric resonator methods  [in Japanese]

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Abstract

超伝導体の表面抵抗R_sのマイクロ波測定によく用いられる。2種類の誘電体共振器法について、その測定精度を検討する。第1は1個の共振器に存在する2つの共振モードTE_<012>とTE_021を用いる方法(1共振器法)で、第2は長さが整数倍異なる2個の共振器を用いる方法(2共振器法)である。これらの共振器についてサファイア円柱共振器(比誘電率ε_r=9.4)とBMTセラミック円柱共振器(ε_r=24)を用いたとき、R_sの測定精度に与える超伝導体の直径dの寸法の影響を計算した。また無負荷Q, Q_uの測定誤差が1%であるとしたとき、Quの測定精度がR_sの測定精度に与える影響について検討する。

For microwave measurement of surface resistance R_s of superconductors, measurement precisions are discussed for dielectric resonator methods of two types; one called one-resonator method, uses TE_<012> and a TE_<021> modes of a dilectric resonator and the other called two-resonator method, uses a TE_<011> resonator and a TE_<013> resonator. At first, ratios S=d/D required for R_s measurements, where d is diameter of superconductor plates and D is diameter of a dielectric rod, are calculated for sapphire with the relative permitivity ε_r=9.7 and for BMT ceramics with ε_r=24. Similarly, effects of 1% precision in the Q measurements on the R_s precision are discussed.

Journal

  • Technical report of IEICE. SCE

    Technical report of IEICE. SCE 98(14), 23-28, 1998-04-22

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  7

Cited by:  2

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003187469
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10012885
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    Journal Article
  • Data Source
    CJP  CJPref  NII-ELS 
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