誘電体共振器法による高温超電導薄膜の表面抵抗のミリ波測定に関する検討  [in Japanese] Discussions on millimeter wave measurements of surface resistance of high-T_c superconductor films by the dielectric resonator method  [in Japanese]

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Abstract

本報告では、10GHzから40GHzにわたり、TE_<011>モードとTE_<013>モードの2つのサファイア円柱共振器を用いる2共振器法によるYBCO薄膜の表面抵抗R_sの測定精度の周波数依存性に対する検討を行う。実際に12GHzおよび20GHzにおいて種々のYBCO薄膜のR_sの温度依存性の測定を行い、その測定精度を評価する。結論として、測定精度10%が12GHzでR_s=0.1mΩをもつYBCO薄膜に関して本法により実現される。

In the frequency range from 10GHz to 40GHz, this paper discusses the measurement precision of r_s for the two-resonator methods, in which a TE_<011>-and TE_<013>-mode sapphire rod resonators are used. Actually, the temperature dependence of R_s of YBCO films of some kinds are measured at 12GHz and 20GHz and their measurement precision are estimated. As a result, the high measurement precision of 10 percents is realized by this method for the YBCO films having R_s=0.1mΩ at 12GHz.

Journal

  • Technical report of IEICE. SCE

    Technical report of IEICE. SCE 99(28), 33-38, 1999-04-23

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  8

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003187558
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10012885
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    09135685
  • NDL Article ID
    4731001
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    CJP  NDL  NII-ELS 
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