誘電体円板を装荷した空洞共振器による準マイクロ波帯の複素誘電率測定法

• 中山 明

  京セラ株式会社 総合研究所

• 福浦 篤臣

  京セラ株式会社 総合研究所

• 西村 道明

  京セラ株式会社 総合研究所

書誌事項

タイトル別名

• Complex Permittivity Measurement Method at Pseud Microwave frequency Using a Dielectric Plate Loaded Cavity Resonator

抄録

本論文では, 2GHzにおける誘電体材料の複素誘電率の非破壊測定法について述べる. 本研究で使用した共振器は, 45の比誘電率ε'を有する誘電体円板を左右対称に装荷した空洞共振器である. 空洞共振器は中央で分割され, その間に基板状の測定試料が挟持される. 試料の比誘電率ε'と誘電正接tanδはTE_<011>モードの共振周波数と無負荷Qから計算される. 様々な材料のε'とtanδを測定し, 他の空洞共振器による3, 10GHzの値と比較, 検討した. 本方法の測定誤差はε'においては1%以下, tanδにおいては2〜3×10^<-5>である.

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波

  電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波 95 (546), 1-6, 1996-02-28

  一般社団法人電子情報通信学会

キーワード

• 複素誘電率
• 測定法
• 準マイクロ波
• 空洞共振器

詳細情報

• CRID: 1570572702430651904
• NII論文ID: 110003189569
• NII書誌ID: AN10013185
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles