誘電体共振器法による超伝導体表面抵抗の測定精度に関する検討

• 岡嶋 伸吾

  埼玉大学 工学部

• 吉川 博道

  埼玉大学 工学部

• 小林 禧夫

  埼玉大学 工学部

書誌事項

タイトル別名

• Discussion for measurement precisions of surface resistance of superconductor plates and films by dielectric resonator methods

抄録

超伝導体の表面抵抗R_sのマイクロ波測定によく用いられる。2種類の誘電体共振器法について、その測定精度を検討する。第1は1個の共振器に存在する2つの共振モードTE_012とTE_021を用いる方法(1共振器法)で、第2は長さが整数倍異なる2個の共振器を用いる方法(2共振器法)である。これらの共振器についてサファイア円柱共振器(比誘電率ε_r=9.4)とBMTセラミック円柱共振器(ε_r=24)を用いたとき、R_sの測定精度に与える超伝導体の直径Dの寸法の影響を計算した。また無負荷Q, Q_uの測定誤差が1%であるとしたとき、Q_uの測定精度がR_sの測定精度に与える影響について検討する。

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波

  電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波 98 (15), 23-28, 1998-04-22

  一般社団法人電子情報通信学会

キーワード

• 超伝導体
• マイクロ波
• 表面抵抗

詳細情報

• CRID: 1571980077314607872
• NII論文ID: 110003189630
• NII書誌ID: AN10013185
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles