誘電体共振器法による高温超伝導薄膜の表面抵抗の測定精度  [in Japanese] Measurement precisions of surface resistance of high-Tc superconductor films by dielectric resonator method  [in Japanese]

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Abstract

超伝導体の表面抵抗R_sのマイクロ波測定によく用いられる2種類の誘電体共振器法について、その測定精度を検討する。第1は長さが整数倍異なる2個の共振器を用いる方法(2共振器法)で、第2は1個の共振器に存在する2つの共振モードTE_012とTE_021を用いる方法(1共振器法)である。12GHzで0.1mΩをもつYBCO薄膜のR_sを測定した結果、誘電正接tanδが10^-7以下のサファイア円柱を用いた2共振器法における測定誤差は10%、tanδは10^-6程度のBMTセラミックス円柱を用いた1共振器法における測定誤差は40%となり、R_sの小さい測定にはtanδの小さい誘電体を用いることが必要であることを実証した。また、より小さい面積の超伝導体を測定するための誘電体の最適寸法について計算する。

For microwave measurement of surface resistance R_s of superconductors, measurement precisions are discussed for dielectric resonator methods of two types ; one uses a TE_011 resonator and a TE_013 resonator (a two-resonator method) and the other uses TE_012 and TE_021 modes of a dielectric resonator (a one-resonator method). It is found that measurement error for R_s of YBCO films is 10 percents for the two-resonator method using sapphire rods and 40 percents for the one-resonator method using BMT ceramic rod. Therefore, it is essential to use the low loss dielectric material for the measurement low R_s value. Moreover, we calculate the best diameter to length ratio of dielectric rod to measure the superconductor plates and films with the smallest area.

Journal

  • IEICE technical report. Microwaves

    IEICE technical report. Microwaves 98(419), 27-32, 1998-11-19

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  9

Cited by:  3

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003189752
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10013185
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    Journal Article
  • Data Source
    CJP  CJPref  NII-ELS 
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