表面プラズモン励起による有機超薄膜からの光放射特性  [in Japanese] Light Emission from Organic Ultrathin Films on Metal Films due to Excited Surface Plasmon at the Interface  [in Japanese]

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Abstract

Ag薄膜、およびAg薄膜上に積層したアラキジン酸C20LB膜試料について、表面プラズモン励起を利用して散乱光を高感度に測定した。散乱光の角度スペクトルを、金属/LB膜、LB膜/空気各界面の凹凸による影響を考慮して解析することにより、C20LB膜の表面凹凸を評価した。その結果、累積層数の増加にしたがい、LB膜表面の凹凸が、変化していることが観察された。また、同試料について、原子間力顕微鏡で表面観察を行った。その結果、層数増加により、表面粗さが増していることが観察された。これは、散乱光解析により得られた表面凹凸パラメータの変化と同じ変化の傾向を示していた。

Scattered light properties from Ag thin films and arachidic acid(C20)Langmuir-Blodgett(LB)films on the Ag thin films were investigated to evaluate the surface roughness of these films utilizing the excited surface plasmon in the attenuated total reflectivity(ATR)configuration. The surface roughness of the films was estimated by the angular distribution of the scattered light.The results showed that the structure and the surface roughness of the C20 LB films changed with the number of the monolayers.Surface roughnesses were also evaluated by AFM measurements.

Journal

  • IEICE technical report. Component parts and materials

    IEICE technical report. Component parts and materials 98(163), 43-48, 1998-07-03

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  14

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003199332
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10012932
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • Data Source
    CJP  NII-ELS 
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