蛍光EXAFS法によるInP中に均一ドープしたEr原子周囲の局所構造解析
書誌事項
- タイトル別名
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- Fluorescence EXAFS study of atomic configuration around Er atoms homogeneously doped in InP
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抄録
OMVPE法によりEr均一添加したInPのEr^<3+>が関与するPLスペクトルの形状は強い成長温度依存性を示す。このことはErが複数の発光下しを形成していること、すなわち、安定なEr原子周辺構造が複数存在することを示唆している。Er原子周辺構造の解明を目的として蛍光EXAFS (extended X-ray absorption fine structure)測定および周辺構造を仮定したEXAFSの理論計算を行った。その結果、成長温度580℃、Er濃度8*10^<18>cm^<-3>の試料ではEr原子の最近接原子はPであり、大多数のErはErP微結晶を形成していることがわかった。
収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス
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電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス 95 (387), 7-12, 1995-11-24
一般社団法人電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571980077286345088
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- NII論文ID
- 110003200177
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- NII書誌ID
- AN10012954
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles