多重外部出力検出テスト生成方法  [in Japanese] 1 Multiple Primary Output Detection Test Pattern Generation  [in Japanese]

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Abstract

高品質なテスト生成手法の1つとして, n回検出テストが知られている.しかし, n回検出の定義に従ってテスト生成を行った場合, テスト品質の向上に寄与しないテストが多数生成されうる.そこで, より多くの信号線が活性化されるようなテスト生成手法を用いることによって, テスト品質の更なる向上が可能になる.本稿では, テスト品質向上のアプローチとして, 活性化される信号線の数に着目し, 新たなテスト品質の評価尺度(活性化率)を提案する.また, 活性化率を向上させるためのテスト生成手法として, 多重外部出力検出テスト生成手法(MPOD)を提案する.ISCAS'85ベンチマーク回路による計算機実験により, 活性化率の向上がテスト品質の向上に反映されることを示し, MPODで生成されたテスト集合の有効性を示す.

n-detection test set are known as one of efficient test sets. However, many tests which hardly contribute to improvement in test quality may be contained in test sets generated base on conventional definitions. Then, the further improvement in test quality becomes possible by using the test set to which more signal lines are activated. In this paper, we propose the activation coverage. It paid attention to the number of activated signal lines, as a new evalucation measure of test quality. In addition, we propose Multiple Primary Outputs Detection Test Pattern Generation (MPOD) for improvement of activation coverage. Experiment results show that the improvement of the activation coverage is reflected in the improvement of the test quality andthe effectiveness of the test set generated with MPOD.

Journal

  • IEICE technical report. Dependable computing

    IEICE technical report. Dependable computing 104(664), 21-26, 2005-02-18

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  12

Cited by:  1

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003204367
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AA11645397
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    Journal Article
  • ISSN
    09135685
  • NDL Article ID
    7282849
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    CJP  CJPref  NDL  NII-ELS 
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