テスト容易化合成情報に基づく順序回路テスト生成の高速化

• 中里 昌人

• 大竹 哲史

• 藤原 秀雄

書誌事項

タイトル別名

• テスト ヨウイカ ゴウセイ ジョウホウ ニ モトヅク ジュンジョ カイロ テスト セイセイ ノ コウソクカ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 104 (664), 33-38, 2005-02-18

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 有限状態機械
• 知識
• sequential circuit
• test generation
• synthesis for testability
• finite state machine
• knowledge

詳細情報

• CRID: 1520853832034015232
• NII論文ID: 110003204369
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 7282867
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7282867
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles