高温超伝導体のマイクロ波表面抵抗測定用サファイア円柱の誘電損失に関する実験的検討  [in Japanese] Experimental discussions on loss tangent of sapphire rods for microwave surface resistance measurement of high-temperature superconductors  [in Japanese]

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Abstract

両端短絡形誘電体共振器法は, マイクロ波帯における高温超伝導体の表面抵抗R_Sの高精度測定法として以前報告されている。サファイアは, 誘電正接tanδが小さいため, R_S測定は, tanδの値を無視して行われている。しかし, サファイアには不純物や格子欠損のため, tanδに差異があることが知られている。本報告では, 両端短絡形誘電体共振器法によりモードが異なる2つのサファイア円柱共振器共振器を用いて比誘電率ε_r, tanδ, R_Sの測定を行い, 4つのサファイア円柱の誘電損失について検討する。この結果, tanδに差異があることを確認した。これより, 同じ特性のtanδの試料を組み合わせることによりR_Sの高精度測定が可能であることを示す。

Journal

  • Proceedings of the IEICE General Conference

    Proceedings of the IEICE General Conference, 477-478, 1997

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

Cited by:  2

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003249166
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10471452
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    Proceedings
  • Data Source
    CJPref  NII-ELS 
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