3流体モデルによるNb薄膜の表面インピーダンスの現象論的解釈  [in Japanese] Phenomenological explanation of surface impedance of a Nb film by the 3-fluid model  [in Japanese]

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Abstract

3流体(τ)モデルは, 高温超伝導体のマイクロ波表面抵抗R_sの温度依存性を現象論的に説明するのに有効であることを以前報告した。本報告では, 低温超伝導体であるNb薄膜のR_sの測定結果についても3流体(τ)モデルが有効であることを示す。

Journal

  • Proceedings of the IEICE General Conference

    Proceedings of the IEICE General Conference 1997年.エレクトロニクス(2), 82, 1997-03-06

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003266180
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10471452
  • Text Lang
    JPN
  • Data Source
    NII-ELS 
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