軟X線レーザーによるプラズマ画像計測

• 高橋 謙次郎

  阪大レーザー研

• 兒玉 了祐

  阪大レーザー研

• 倉重 太一

  阪大レーザー研

• 村井 健介

  大工研

• 橋本 浩幸

  阪大レーザー研

• 田中 和夫

  阪大工学部

• 大道 博行

  阪大レーザー研

• 加藤 義章

  阪大レーザー研

• 三間 圀興

  阪大レーザー研

書誌事項

タイトル別名

• Plasma Measurements with a Soft X-ray Laser Probe System

抄録

レーザープラズマ計測を目的に、軟X線レーザープローブ計測器を開発した。軟X線レーザープローブとグリッドイメージング法による高密度領域(10^<21>〜10^<22>cm^<-3>)プラズマ電子密度計測技術確立のための予備実験として、低密度領域(8×10^<20>cm^<-3>)電子密度分布計測を行った。この実験結果をもとに、高密度プラズマ計測実現のための問題点について検討した。また、軟X線レーザープローブ光のプラズマ中での吸収分布を利用したレーザー照射初期インプリントの計測についても報告する。

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告. EID, 電子ディスプレイ

  電子情報通信学会技術研究報告. EID, 電子ディスプレイ 96 (105), 25-30, 1996-06-20

  一般社団法人電子情報通信学会

キーワード

• 軟X線レーザープローブ
• グリッドイメージング法(GIR)
• 電子密度計測
• インプリント計測

詳細情報

• CRID: 1572261552299446528
• NII論文ID: 110003268610
• NII書誌ID: AN10060775
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles