ベイジアンネットに基づくソフトウェア開発工程の最終品質予測モデルの提案  [in Japanese] Empirical Software Quality Prediction Model based on Bayesian Network  [in Japanese]

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Author(s)

    • 水野 修 MIZUNO Osamu
    • 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University
    • 菊野 亨 KIKUNO Tohru
    • 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University

Abstract

本研究では,ソフトウェア間発プロジェクトの各工程における作業とソフトウェアプロダクトの最終的な品質の関係をモデル化することによる最終品質予測モデルの構築を試みる.モデル化の手法としては,予測を行う時点において値が不確実なメトリクスをモデルに含むことが可能なベイジアンネットを採用する.モデル化の対象はソフトウェア開発工程における残存不具台数の推移である.具体的には,残存不具合数の推移を軸として,レビューやテスト作業によって発見された不具合数,それらの作業に要した工数の依存関係を利用してモデル化を行った.そしてモデルの性能評価を行い,最終品質予測モデルとして有用であることを示した.

In this paper, we propose a model to predict the final quality of software products by using the Bayesian network model. Generally speaking, software development includes various uncertain factors which cannot be determined a priori. We thus use Bayesian network model, which can handle uncertainties as probabilistic events, to represent causal relationships between metrics related to the software quality. We then constructed a quality model that focuses on the structure of software process explicitly. Concretely, the effect of review activity is considered. Based on the metrics data collected from the development projects in a certain company, we evaluated the constructed model. As the result of empirical evaluation, we confirmed that the constructed model can be applicable to the prediction of final software quality.

Journal

  • Technical report of IEICE. SS

    Technical report of IEICE. SS 102(617), 19-24, 2003-01-24

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  11

Cited by:  1

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003276643
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10013287
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    Journal Article
  • ISSN
    09135685
  • NDL Article ID
    6467682
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    CJP  CJPref  NDL  NII-ELS 
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