ソフトウェア開発における不具合発見履歴と最終品質の関係に対する統計的分析  [in Japanese] Statistical analysis of relationship between fault detection trend and field quality of software product  [in Japanese]

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Author(s)

    • 吉富 隆 YOSHITOMI Takashi
    • 大阪大学 大学院基礎工学研究科 情報数理系専攻 Graduate School of Engineering Science, Osaka University
    • 水野 修 [他] MIZUNO Osamu
    • 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University
    • 菊野 亨 KIKUNO Tohru
    • 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University
    • 高木 徳生 TAKAGI Yasunari
    • 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 Graduate School of Information Science and Technology, Osaka University

Abstract

本研究では,ソフトウェア開発プロジェクトのコードレビュー以降の工程における工程ごとの不具合発見履歴に注目し,ソフトウェアプロダクトの最終的な品質との関係を実際のプロジェクトデータを用いた統計的分析によって明らかにする.具体的には,まず,コードレビュー以降の工程の不具合発見履歴によってプロジェクトを4つのクラスに分類した.次に,分類したクラス間でそれぞれのソフトウェアプロダクトの最終品質に有意な差があることを統計的仮説検定によって示した.最後に,不具合発見履歴を特徴づける要因を特定するために,コードレビュー以前の工程で収集できるメトリクスデータに対する分析を行った.ロジスティック回帰分析を用いた分析の結果,幾つかのメトリクスデータが不具合発見履歴に影響を与えていることを統計的に確認した.

In this paper, we clarify a relationship between the fault detection trend (that is, a change of the number of faults detected by four successive testings) and the field quality of software product. The relationship is originally found and believed by developers in a certain company. For this purpose, we firstly define four types of trends using rank correlation coefficient, and classify the projects into four classes. Next, as a result of comparison of field quality, we derived a proposition that software product developed by project with the trend of decreasing type has high software quality. Furthermore, in order to find the factors that have strong influence on the fault detection trend, we performed the logistic regression analysis. As a result, we got two principal metrics which may affect the fault detection trend with statistical significance.

Journal

  • Technical report of IEICE. SS

    Technical report of IEICE. SS 102(63), 31-36, 2002-05-10

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  20

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003277181
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10013287
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    09135685
  • NDL Article ID
    6188398
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    CJP  NDL  NII-ELS 
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