DASTによるEOS

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  • Electro-Optic Sampling Using DAST

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抄録

電気光学サンプリング(Electro-Optic Sampling:EOS)は、デバイスの特性評価や集積回路の故障診断を始め、これからの超高速エレクトロニクスを支える計測・テスト技術として実用化が進められている。このEOS技術を支える2つの大きな柱は、パルスレーザ技術と、電界センサとしての電気光学材料技術である。前者に関しては、半導体レーザをベースとする種々の実用光源の開発が行われている。一方、後者のEOS用電気光学材料に関しては選択肢が少なく、高感度化に向けてより一層の研究開発が望まれている。これまでに我々は、KTP、CdTeといった無機結晶や有機高分子材料を提案してきた。今回、新しい電気光学材料として近年注目されている有機結晶DASTをEOSに用いることを試み、その高感度性を検証した。

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1573105977250354304
  • NII論文ID
    110003336125
  • NII書誌ID
    AN10489017
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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