低誘電率媒質を埋めたマイクロストリップ線路のFEM解析

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タイトル別名
  • FEM Analysis of Microstrip Line with Embedded Low Permittivity Material

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  • CRID
    1570854177405856128
  • NII論文ID
    110003343786
  • NII書誌ID
    AN10489017
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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