常活性ラインに基づく高性能/低リーク・キャッシュの消費エネルギー評価  [in Japanese] Evaluation of energy consumption for High-Performance/Low-Leakage Caches based on Always Active line  [in Japanese]

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Abstract

我々はこれまでに, 高性能かつ低リークなキャッシュを提案した.この手法は性能低下を引き起こすラインを常に活性状態として動作させる事でペナルティを低減する.これまではリーク消費エネルギーおよび性能のみの評価であった.そこで本稿では, 下位記憶階層へのアクセスに伴う消費エネルギーや, 本手法適用に伴うエネルギー・オーバヘッド等も含めた消費エネルギーを詳細に評価した.我々が提案する高性能/低リーク・キャッシュを適用すると, 従来の低リーク・キャッシュであるCache decay方式よりも8%程度のエネルギー・オーバヘッドで最大20%もの性能低下を抑制できた.また, 本方式が有効に動作した場合, Cache decayに比べ消費エネルギーの削減効果も得られた.

So far we proposed a cache management technique to alleviate the negative effect of low-leakage caches. This technique makes improvements to performance degradation. In our approach, cache lines which caused the performance degradation are forced to stay in the high-speed but high-leakage mode. Before now we evaluated only leakage energy and performance. Therefore, we perform detailed energy evaluation including access energy for low hierarchy memory and overhead on additional circuit. In our evaluation, the proposed scheme brings about 70〜80% of energy reduction by only a 5% of performance degradation.

Journal

  • IEICE technical report

    IEICE technical report 105(475), 37-42, 2005-12-15

    The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  9

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    110003493779
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10013276
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    ART
  • ISSN
    09135685
  • NDL Article ID
    7768566
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    CJP  NDL  NII-ELS 
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